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3He樣品桿低溫平臺(tái)，集成在3He樣品桿上的300 mK溫區(qū)的物性測(cè)試系統(tǒng)，通過利用“單發(fā)式”的3He樣品桿將傳統(tǒng)的2 K低溫系統(tǒng)的溫度擴(kuò)展至300 mK，結(jié)合多種物性測(cè)試選件，可實(shí)現(xiàn)300 mK溫區(qū)下的多種物性測(cè)試功能。
4K超低振動(dòng)低溫光學(xué)恒溫器，專為光學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的超低溫平臺(tái)，將振動(dòng)控制在了納米量級(jí)
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